Giet-inspeksievermoë
Metallografiese mikroskoop
3D skandeerder
Industriële endoskoop
CMM
Spektrum ontleder
X-straal detektor
Bewerkings- en toetsvermoë
Japan ingevoerde silindriese instrument
CMM
Duitse Mahr Roughness Profiler
Mabus Aanlyn Opsporing
Miller Eddy Current
Deeltjie ontleder
Sertifikaat
